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產品資料

圓鼓法動態摩擦系數測定儀[產品打印頁面]

如果您對(dui)該產品感興趣的話,可以(yi)
產品名稱: 圓(yuan)鼓法動(dong)態摩(mo)擦系數測(ce)定儀
產品型號: DMY-10
產品展商: 紐利德
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

DMY-10圓鼓法動態摩擦系數測定儀是依據國家標準GB/T 24456-2009《高密度聚乙烯硅芯管》及交通部標準JT/T 496-2018《公路地下通信管道高密度聚乙烯硅芯塑料管》中,將硅芯管類產品在摩擦系數性能檢測方面分為平板法測定靜態摩擦系數和圓鼓法測定動態摩擦系數兩類。用于測定光(電)纜在硅芯管內壁滑動時纜外表面與管內表面之間的動態摩擦系數。


圓鼓法動態摩擦系數測定儀  的詳細介紹

DMY-10圓鼓法動態摩擦系數測定儀是依(yi)據國家標(biao)準(zhun)GB/T 24456-2009《高密度聚(ju)乙烯硅(gui)芯管(guan)》及交(jiao)通部(bu)標(biao)準(zhun)JT/T 496-2018《公路地(di)下通信管(guan)道(dao)高密度聚(ju)乙烯硅(gui)芯塑料管(guan)》中,將(jiang)硅(gui)芯管(guan)類(lei)(lei)產(chan)品(pin)在摩擦系(xi)數(shu)性能(neng)檢測(ce)(ce)(ce)方面(mian)分為平板法測(ce)(ce)(ce)定(ding)靜態(tai)摩擦系(xi)數(shu)和圓(yuan)鼓法測(ce)(ce)(ce)定(ding)動(dong)態(tai)摩擦系(xi)數(shu)兩類(lei)(lei)。圓(yuan)鼓法動(dong)態(tai)摩擦系(xi)數(shu)測(ce)(ce)(ce)定(ding)儀用(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)定(ding)光(電)纜在硅(gui)芯管(guan)內壁滑動(dong)時(shi)纜外表(biao)面(mian)與(yu)管(guan)內表(biao)面(mian)之(zhi)間的動(dong)態(tai)摩擦系(xi)數(shu)。

DMY-10圓(yuan)鼓法動態(tai)摩擦系數(shu)測定儀(yi)主機與輔具的設計(ji),具有(you)外型(xing)美觀,操作方便,性能(neng)穩定可(ke)靠的特點。計(ji)算機控制系統經調(diao)(diao)速(su)(su)系統控制伺服電機轉動,再經減(jian)速(su)(su)系統減(jian)速(su)(su)后(hou),通過(guo)高精度(du)滾珠絲(si)杠副帶動移動橫梁(liang)上升、下降(jiang),完成對(dui)試樣(yang)的拉伸性能(neng)試驗。該系列產品無污(wu)染(ran)、噪音低(di)、效率高,具有(you)非常(chang)寬的調(diao)(diao)速(su)(su)范圍和橫梁(liang)移動距離。
性(xing)能特點
1、主(zhu)機:該部分(fen)由工作臺、中橫(heng)梁、上橫(heng)梁、導向立柱、外罩等組成。整機結構合理,造型美觀,而且保證主(zhu)機具有足夠的(de)剛性和較高(gao)的(de)同軸度(du)等運行精(jing)度(du)指標。具有橫(heng)梁位移極限(xian)保護、超負荷保護、破(po)斷停機保護、驅動系統過流保護功能(neng)。
2、傳(chuan)動(dong)系(xi)統(tong):調速系(xi)統(tong)控(kong)制(zhi)電機(ji)(ji)轉動(dong),經同(tong)步帶(dai)減速機(ji)(ji)減速后,通過(guo)滾珠絲杠副帶(dai)動(dong)中(zhong)橫梁上升、下降.
3、驅動(dong)系(xi)統(tong)(tong)(tong):DMY-10圓鼓(gu)法動(dong)態摩擦系(xi)數測(ce)定(ding)(ding)儀采(cai)用(yong)調(diao)(diao)速精度高、性能穩(wen)定(ding)(ding)的調(diao)(diao)速系(xi)統(tong)(tong)(tong)與電機作為驅動(dong)系(xi)統(tong)(tong)(tong),調(diao)(diao)速范圍(wei)廣。
4、測量及(ji)控制系統:以(yi)Windows為操作(zuo)系統的(de)(de)控制與數據處理軟件(jian)(jian),實現了峰值、橫梁位移(yi)、試樣變形(xing)及(ji)試驗曲線的(de)(de)屏幕(mu)顯(xian)示,所有的(de)(de)試驗操作(zuo)都可以(yi)在計(ji)算機(ji)屏幕(mu)上以(yi)鼠標輸入的(de)(de)方式完成(cheng),采集的(de)(de)數據可以(yi)ASCII文(wen)件(jian)(jian)的(de)(de)形(xing)式保(bao)存在硬盤中(zhong)具有良好的(de)(de)人機(ji)界(jie)面,操作(zuo)方便。
5、試驗力通過與輔(fu)具上部連為一體的(de)負(fu)荷(he)傳感器進行測量(liang),橫梁(liang)位移通過光電(dian)式位移傳感器測量(liang)。三路信(xin)號經嵌入(ru)式控(kong)制(zhi)器實現試驗數據(ju)的(de)采集(ji)、標(biao)度變換(huan)、處理(li)和屏幕顯示。根據(ju)試驗要求控(kong)制(zhi)系統運算后得到控(kong)制(zhi)信(xin)號,再經調速系統放大后驅動伺服(fu)電(dian)機,按控(kong)制(zhi)系統確定的(de)控(kong)制(zhi)目標(biao)運動至試驗完成。
技術參數
1、試驗力:5000N
2、試驗(yan)力分辨率(lv):1/120000,全程分辨率(lv)不變
3、位(wei)移分辨率(lv):0.01mm
4、調速范圍:0.001-500mm/min
試驗條件:
硅芯管:長(chang)度4m。
光(guang)纜:為直徑( 15 +2)mm.長度(du)6m的中密度(du)聚乙烯( MDPE)護套光(guang)(電)纜。
硅芯管內表面和光(電(dian))纜外表面應無限制光(電(dian))纜滑動的任何(he)缺陷。試(shi)驗(yan)前(qian),試(shi)驗(yan)設備和樣品(pin)應放置(zhi)在(23 +2)℃下保持2h,并在此溫度下試(shi)驗(yan)。
試驗步驟:
1.把硅(gui)芯管(guan)按圖1所示使用U形(xing)卡箍固定在圓鼓上,固定應穩定,以(yi)防(fang)止(zhi)測試時硅(gui)芯管(guan)與圓鼓產生相對移動,硅(gui)芯管(guan)沿圓鼓的(de)纏繞角度為450°。
2.把(ba)纜放入硅芯管內,切割(ge)的(de)纜長應滿足測試的(de)*大行程(cheng)。
3.與纜相連的夾(jia)頭(tou)應能承受測試的*大拉伸負(fu)荷(he)。
4.把專用砝碼(ma)固(gu)定(ding)在纜的(de)一端(duan),水平端(duan)與夾頭連接,夾頭通過線繩(sheng)與拉伸試(shi)驗機相連。
5.打開(kai)(kai)試驗機(ji)程序,在(zai)空間(jian)調節中(zhong)設定拉伸速度為100mm/ min,點擊上升按鈕,當砝碼剛好離開(kai)(kai)地面時停止(zhi)拉伸。調整圓鼓上的硅(gui)芯管,使兩(liang)端纜在(zai)硅(gui)芯管中(zhong)間(jian)。
6.開(kai)啟(qi)試(shi)驗機(ji)的(de)拉伸(shen)(shen)(shen)程序(xu),位(wei)移(yi)力值均清零,在空(kong)間調節中設定拉伸(shen)(shen)(shen)速(su)度為(wei)100mm/min,點(dian)擊上(shang)升按鈕,當(dang)橫梁位(wei)移(yi)到100mm~120mm之(zhi)間時(shi)停(ting)止牽(qian)引,點(dian)擊復(fu)位(wei)按鈕降(jiang)下拉伸(shen)(shen)(shen)試(shi)驗機(ji)橫梁,再次開(kai)啟(qi)拉伸(shen)(shen)(shen)試(shi)驗機(ji)的(de)拉伸(shen)(shen)(shen)程序(xu),如此(ci)共往復(fu)進行兩次,以使線纜與硅(gui)芯管充(chong)分(fen)接(jie)觸。
7.開(kai)啟試驗(yan)(yan)機(ji)(ji)的拉伸(shen)程序,在空間調節(jie)中選擇100mm/min,點擊下降按鈕,降下砝碼,保證拉伸(shen)試驗(yan)(yan)機(ji)(ji)無載荷,將拉伸(shen)試驗(yan)(yan)機(ji)(ji)的力(li)值和位移(yi)回零(ling)。
8.開(kai)啟試驗機的拉(la)伸程序,進(jin)行正式試驗,在閉環控(kong)制中選擇拉(la)伸速(su)度為100mm/min,點擊開(kai)始按鈕,當橫梁位(wei)移(yi)到200mm時(shi)停止牽引,在100mm ~ 160mm之間的位(wei)移(yi)區間上(shang)讀取并計算出拉(la)伸試驗的程序自(zi)動平均拉(la)伸負荷F,程序自(zi)動計算動態(tai)摩(mo)擦系數。
9.試(shi)驗結束,關(guan)閉(bi)(bi)試(shi)驗機電(dian)(dian)源,關(guan)閉(bi)(bi)試(shi)驗機程(cheng)序,關(guan)閉(bi)(bi)電(dian)(dian)腦。
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